Messgeräte
Messsystem aus INVENIO-R (Spektrograph) und HYPERION 2000 (Mikroskop) von Bruker Optik GmbH
Messprinzip
Breitbandige Infrarotstrahlung wird in einem Interferometer in einen Referenz- und einen Messstrahl aufgeteilt. Der Messstrahl wechselwirkt bis in einige µm Materialtiefe mit der Oberfläche einer Probe (Reflektion) bzw. durchdringt das Probenmaterial vollständig (Transmission). Mess- und Referenzstrahl werden überlagert und erzeugen ein Interferogramm, das über eine Fourier-Transformation in ein Spektrum umgewandelt wird. Das Messergebnis ist die relative Signalintensität (a.u.) als Funktion der Wellenzahl (cm-1).
Anwendungen
Aus den Messdaten lassen sich über Datenbanken die in der Probenoberfläche vorhandenen Verbindungen (Moleküle, funktionale Gruppen) identifizieren sowie deren relative Anteile bewerten. Neben klassischen Punktmessungen ist auch eine bildgebende Messung möglich.
